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納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)的高精度物理性能測試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運動和光散射特性，實現(xiàn)粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)同步測量，廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)藥、材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域。技術(shù)原理：NTA技術(shù)結(jié)合激光散射與視頻顯微技術(shù)，利用納米顆粒在液體中的布朗運動特性進行表征。激光束照射樣品池后，顆粒散射的光被顯微鏡捕捉，高速攝像頭（如CMOS傳感器）以每秒30幀的頻率記錄顆粒運動軌跡。通過分析擴散系數(shù)并結(jié)合斯托克斯-愛因斯坦方程，可計算出顆粒的...

激光粒度分布儀是一種利用激光散射原理測量顆粒大小分布的精密儀器，其核心原理基于米氏散射理論（MieScatteringTheory）——當激光束照射樣品顆粒時，顆粒會使激光產(chǎn)生散射，散射光的強度與角度分布與顆粒大小密切相關(guān)。大顆粒產(chǎn)生前向小角度散射且光強較強，小顆粒則使光散射至更廣泛角度且光強較弱。通過高靈敏度光電探測器陣列捕獲不同角度的散射光信號，結(jié)合全Mie散射理論進行復(fù)雜計算，儀器可精確反演出顆粒的粒度分布數(shù)據(jù)。激光粒度分布儀的安裝步驟：1、安裝前準備人員要求：確保安裝...

X射線熒光光譜儀（XRF）是一種基于X射線熒光效應(yīng)的高精度元素分析儀器，通過測量樣品受激發(fā)后產(chǎn)生的特征X射線熒光，實現(xiàn)元素的定性與定量分析。其核心原理是利用高能X射線轟擊樣品，使原子內(nèi)層電子被擊出形成空穴，外層電子躍遷填補時釋放出特定能量的X射線熒光，該熒光的能量或波長與元素種類一一對應(yīng)，強度則反映元素含量。X射線熒光光譜儀的主要結(jié)構(gòu)組成：一、X射線源（激發(fā)源）用于產(chǎn)生高能X射線，激發(fā)樣品中的原子發(fā)射特征X射線熒光。X射線管（最常見）：由陰極（燈絲）和陽極（靶材）構(gòu)成。常用靶...

OmniTrust軟件——馬爾文帕納科專為數(shù)據(jù)完整性和21CFRPart11合規(guī)性設(shè)計的解決方案——現(xiàn)已適用于NanoSightPro納米顆粒跟蹤分析儀。OmniTrust專為在受監(jiān)管環(huán)境中運營的制藥實驗室而設(shè)計，通過擴展NSXplorer（NanoSightPro操作平臺系統(tǒng)）的功能，支持數(shù)據(jù)完整性、用戶管理和審計合規(guī)。審計管理軟件的加持，幫助NanoSightPro用戶自動維護全面可追溯的測試記錄，大幅簡化驗證流程及監(jiān)管檢查，減輕實驗室管理負擔。什么是OmniTrust？...