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X熒光光譜儀由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測(cè)樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線),探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X熒光光譜儀的性能優(yōu)勢(shì):1、分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,10~300秒就可...
熔樣機(jī)具有獨(dú)立知識(shí)產(chǎn)權(quán),可廣泛應(yīng)用于鋼鐵、冶金、化工、地質(zhì)、水泥、陶瓷、耐火材料等行業(yè),采用觸摸屏顯示控制,界面友好,操作簡(jiǎn)便,自動(dòng)化程度高,具有升溫快、控溫,節(jié)能、運(yùn)行穩(wěn)定的特點(diǎn),溫度更可高達(dá)1170℃,對(duì)難熔物質(zhì)也具有優(yōu)良的熔融效果,熔制樣片重現(xiàn)性好,各項(xiàng)指標(biāo)性能*,擁有良好的性價(jià)比。熔樣機(jī)是采用玻璃熔融法制備玻璃熔片,用AAS、ICP、X-熒光分析的樣品制備儀器,基本消除了礦物效應(yīng)和基體的增強(qiáng)吸收效應(yīng),測(cè)量的精密度高、準(zhǔn)確度好;高溫熔融所采用的加熱方式有:燃?xì)饧訜帷㈦娮?..
Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。通過(guò)測(cè)定粉體的Zeta電位,從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn),是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法,在粉體表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比,它具有顯著的*性??蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè),也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。zeta電位儀的操作...
工業(yè)X射線衍射儀是利用衍射原理,確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,確的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學(xué),材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。X射線及其衍射X射線是一種波長(zhǎng)(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線,它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng),稱為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長(zhǎng)為0.154056nm。X射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,晶體...
想要了解高分辨衍射儀,首先,就要了解它的具體構(gòu)造:管罩的X-Y和可旋轉(zhuǎn)平臺(tái)bel鏡平行束光學(xué)器件樣品空間調(diào)整的大歐拉環(huán)帶有光學(xué)編碼器的步進(jìn)驅(qū)動(dòng)器實(shí)現(xiàn)測(cè)角儀的快速高準(zhǔn)確定位都可驅(qū)動(dòng)的七個(gè)自由度X-Y-Z平動(dòng)的大尺寸可驅(qū)動(dòng)樣品腔,X、Y達(dá)150mm,Z達(dá)25mm,以適200mm晶片或其他類型的樣品Cr、Fe、Co、Cu和Mo輻射的二次單色器花崗石臺(tái)的高機(jī)械穩(wěn)定性的測(cè)角儀氙氣填充的正比、閃爍計(jì)數(shù)器,固態(tài)、線性和彎曲位敏探測(cè)器,用于低背景或高強(qiáng)度探測(cè)微軟WindowsNT/2000/...